nanoedu

Материалы

Коды Автор Название Назв. организации Ссылка Категория учащихся Тип материала в прилагаемой ссылке Объём Описание
2.04.02., 2.04.03., Заблоцкий А. В., Введение в растровую электронную микроскопию Московский физико-технический институт link бакалавриат, магистратура, аспиранты и научные работники программа курса 6 лекций в составе программы повышения квалификации
2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.04.06., 2.04.07., Коростылев Е. В., Введение в рентгеновский микроанализ Московский физико-технический институт link магистратура, аспиранты и научные работники программа курса 5 лекций в составе программы повышения квалификации
1.03.06., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.05.04., Изаак Т. И., Методы изучения наноструктурных и композиционных химических материалов Томский государственный университет link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа 36 часов
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.04., Елсуков К. А., Власов А. И., Панфилов Ю. В., Методы микроскопии Московский государственный технический университет им. М.Э.Баумана link аспиранты и научные работники программа курса 5 лекций в составе учебной программы
2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., Суворов Э. В., Физические основы дифракционных методов Московский физико-технический институт link бакалавриат, магистратура программа, материалы лекций 6 лекций
2.04.01., 2.04.02., 2.04.05., 2.04.08., 2.05.01., 2.05.05., Филонов М. Р., Методы физико-химических исследований процессов и материалов Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа 2 лекции в составе программы повышения квалификации
1.03.01., 1.03.08., 2.01.01., 2.01.02., 2.03.06., 2.04.05., 1.03.06., 2.04.02., 2.04.12., Буякова С. П., Кульков С. Н., Смолин И. Ю., Наноструктурные материалы на металлической и керамической основе: технология, структура и свойства Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники программа курса 4 лекции в составе программы повышения квалификации
1.03.09., 2.03.07., 2.04.02., 2.04.03., 2.05.04., 3.09.01., 3.09.05., Штильман М. И., Полимерные нанобиоматериалы Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа 5 лекций в составе программы повышения квалификации
2.01.01., 2.01.06., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.14., Башков В. М., Технические системы в нанотехнологиях и диагностика Московский государственный технический университет им. М.Э.Баумана link аспиранты и научные работники программа курса 4 лекции в составе программы повышения квалификации
2.04.03., 2.04.07., 2.04.02., 2.04.10., Волков Н. В., Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» link магистратура, аспиранты и научные работники программа 3 лекции в составе программы повышения квалификации
1.03.01., 1.03.06., 1.03.08., 2.01.01., 2.01.02., 2.03.06., 2.04.02., 2.04.05., 2.04.12., Буякова С. П., Кульков С. Н., Смолин И. Ю., Наноструктурные материалы на металлической и керамической основе: технология, структура и свойства Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники (тех. ВУЗы) программа курса 1 лабораторная работа (к лекциям)
2.04.01., 2.04.02., 2.04.05., 2.04.07., 2.04.10., 3.05.04., 4.01.01., 4.01.03., Тонкопленочная солнечная фотоэнергетика Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) link магистратура, инженеры и технологи (мпециализация - наноэлектроника и нанодиагностика) учебный план 186 часов
2.04.05., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.07., 2.04.09., Фельдман В. И., Чижов П. С., Лобанов М. В., Балагуров А. М., Васильев С. Ю., Кнотько А. В., Тимошенко В. Ю., Харланов А. Н., Гиппиус А. А., Экспериментальные методы диагностики наноструктур и наноматериалов, часть 1 Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова link бакалавриат, магистратура (специализация - зондовая и электронная микроскопия) программа 46 часов
1.02.02., 2.01.01., 2.01.02., 2.01.07., 2.02.01., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., Андреев В. М., Бобыль А. В., Основы технологий и диагностики наногетероструктур Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) link инженеры и технологи программа 14 часов в составе модульной программы опережающей профессиональной переподготовки
3.05.04., 2.01.01., 2.01.02., 2.01.07., 2.02.01., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., Садчиков Н. А., Аронова Е. С., Малевский Д. А., Основы конструирования фотоэлектрических модулей, фотоэнергоустановок и солнечных электростанций Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) link инженеры и технологи, менеджеры программа 6 часов в составе программы опрережающей профессиональной переподготовки
2.01.01., 2.01.02., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.04., 2.04.05., 3.03.01., 5.03., Анищенко Е. В., Битнер Л. Р., Физико-химические основы технологии полупроводниковых материалов и структур Томский государственный университет link инженеры и технологи программа 12 часов
2.01.01., 2.02.02., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.10., 5.04., Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" link магистратура описание учебного плана 4320 часов
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.04.07., 2.04.10., 2.04.16., Филиппов М. Н., Серцова А. А., Методы анализа и исследования наноматериалов Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева link инженеры и технологи программа 52 часа в составе учебной программы
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.05.05., Изаак Т. И., Мокроусов Г. М., Методы исследования морфологии и структуры покрытий Томский государственный университет link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа в составе учебно-методического комплекса
2.04.02., 2.04.03., 5.02.05., Лукьянов А. В., Электронная микроскопия и микроанализ Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова link магистратура программа 4 раздела
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., Изаак Т. И., Методы исследования морфологии и структуры покрытий (2010) Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники пособие полностью 5 разделов

Back to List