nanoedu

Материалы

Коды Автор Название Назв. организации Ссылка Категория учащихся Тип материала в прилагаемой ссылке Объём Описание
1.02.03., 1.03.09., 2.01.08., 2.04.05., 2.04.13., 2.04.06., Горделий В. И., Введение в биофизику мембран Московский физико-технический институт link бакалавриат, магистратура, аспиранты и научные работники программа курса 16 разделов
2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.04.06., 2.04.07., Коростылев Е. В., Введение в рентгеновский микроанализ Московский физико-технический институт link магистратура, аспиранты и научные работники программа курса 5 лекций в составе программы повышения квалификации
1.03.01., 1.03.08., 2.01.01., 2.01.02., 2.03.06., 2.04.05., 1.03.06., 2.04.02., 2.04.12., Буякова С. П., Кульков С. Н., Смолин И. Ю., Наноструктурные материалы на металлической и керамической основе: технология, структура и свойства Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники программа курса 4 лекции в составе программы повышения квалификации
1.01.03., 2.04.05., Маркеев А. М., Применение методов рентгеновской дифракции в исследованиях тонких пленок и приповерхностных слоев твердых тел Московский физико-технический институт link аспиранты и научные работники программа 9 лекций в составе программы повышения квалификации
2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., Суворов Э. В., Физические основы дифракционных методов Московский физико-технический институт link бакалавриат, магистратура программа, материалы лекций 6 лекций
1.03.01., 1.03.09., 2.04.05., 2.04.06., Куклин А. И., Современные структурные методы исследования нанообъектов и наномасштабной структуры материалов Московский физико-технический институт link магистратура, аспиранты и научные работники (тех. ВУЗы) программа практических занятий 16 лабораторных работ
1.03.06., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.05.04., Изаак Т. И., Методы изучения наноструктурных и композиционных химических материалов Томский государственный университет link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа 36 часов
2.04.01., 2.04.02., 2.04.05., 2.04.08., 2.05.01., 2.05.05., Филонов М. Р., Методы физико-химических исследований процессов и материалов Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа 2 лекции в составе программы повышения квалификации
2.04.05., Надольский А. Л., Горбунов В. А., Селезнева Н. В., Рентгеновские методы исследования наноматериалов Уральский государственный университет им. А.М.Горького link аспиранты и научные работники (тех ВУЗы) программа 4 лекции в составе программы повышения квалификации
2.04.05., 1.03.06., Халитов З. Я., Рентгеноструктурный анализ поликристаллов Казанский государственный технический университет им. А.Н.Туполева link бакалавриат, магистратура, инженеры и технологи (выпускники ВУЗов и сотрудники предприятий) программа 5 лекций в составе программы повышения квалификации
1.01.01., 1.01.02., 1.01.03., 1.02.02., 1.03.07., 2.01.01., 2.01.07., 2.02.01., 2.02.02., 2.02.03., 2.02.04., 2.03.01., 2.04.05., 2.04.07., 2.04.12., 3.03.01., 3.03.02., Руднев И. А., Введение в нанотехнологии Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» link магистратура, аспиранты и научные работники (тех. ВУЗ, классические университеты), инженеры и технологи программа курса 5 лабораторных работ (к лекциям)
1.03.01., 1.03.06., 1.03.08., 2.01.01., 2.01.02., 2.03.06., 2.04.02., 2.04.05., 2.04.12., Буякова С. П., Кульков С. Н., Смолин И. Ю., Наноструктурные материалы на металлической и керамической основе: технология, структура и свойства Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники (тех. ВУЗы) программа курса 1 лабораторная работа (к лекциям)
2.04.05., Горбунов В. А., Надольский А. Л., Селезнева Н. В., Рентгеновские методы исследования наноматериалов Уральский государственный университет им. А.М.Горького link аспиранты и научные работники программа курса 4 лабораторные работы (к лекциям)
2.04.01., 2.04.02., 2.04.05., 2.04.07., 2.04.10., 3.05.04., 4.01.01., 4.01.03., Тонкопленочная солнечная фотоэнергетика Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) link магистратура, инженеры и технологи (мпециализация - наноэлектроника и нанодиагностика) учебный план 186 часов
2.04.05., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.07., 2.04.09., Фельдман В. И., Чижов П. С., Лобанов М. В., Балагуров А. М., Васильев С. Ю., Кнотько А. В., Тимошенко В. Ю., Харланов А. Н., Гиппиус А. А., Экспериментальные методы диагностики наноструктур и наноматериалов, часть 1 Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова link бакалавриат, магистратура (специализация - зондовая и электронная микроскопия) программа 46 часов
2.05.03., 2.05.05., 2.04.06., 2.04.05., 2.04.10., Фельдман В. И., Васильев А. Н., Волкова О. С., Зубавичус Я. ., Словохотов Ю. Л., Яшина Л. В., Фабричный П. Б., Экспериментальные методы диагностики наноструктур и наноматериалов, часть 2 Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова link бакалавриат, магистратура программа 13 лекций
2.04.07., 2.04.10., 2.04.01., 2.04.05., 2.04.03., 2.01.02., 2.01.01., 2.03.01., 2.01.04., 2.03.03., 2.01.03., 2.01.07., Гаськов А. М., Методы получения наносистем и наноматериалов Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова link бакалавриат, магистратура программа курса 18 лекций
2.01.01., 2.01.02., 2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.04., 2.04.05., 3.03.01., 5.03., Анищенко Е. В., Битнер Л. Р., Физико-химические основы технологии полупроводниковых материалов и структур Томский государственный университет link инженеры и технологи программа 12 часов
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.04.07., 2.04.10., 2.04.16., Филиппов М. Н., Серцова А. А., Методы анализа и исследования наноматериалов Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева link инженеры и технологи программа 52 часа в составе учебной программы
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., 2.05.05., Изаак Т. И., Мокроусов Г. М., Методы исследования морфологии и структуры покрытий Томский государственный университет link инженеры и технологи, аспиранты и научные работники программа в составе учебно-методического комплекса
2.04.05., 5.02.04., Шехтман В. Ш., Рентгеноструктурный анализ Институт физики твердого тела РАН link бакалавриат, магистратура программа 27 разделов
2.04.05., Цыбуля С. В., Черепанова С. В., Введение в структурный анализ нанокристаллов (2008) Новосибирск link магистратура (специализация - физические методы исследования твёрдого тела) книга полностью 92 страницы
2.04.05., Громилов С. А., Введение в рентгенографию поликристаллов (2009) Новосибирск link магистратура книга полностью 50 страниц
2.04.05., Плясова Л. М., Введение в рентгенографию катализаторов (2010) Новосибирск link бакалавриат, магистратура аннотация 58 страниц
5.02.04., 2.04.05., Тузиков Ф. В., Малоугловая рентгеновская дифрактометрия (2009) Новосибирск link магистратура книга полностью 35 страниц
2.03.12., 2.04.05., Будницкая Ю. Ю., Методы измерения элементного состава, пористости, коррозионной стойкости и морфологии цветных декоративных покрытий на алюминии, магнии и их сплавах (2010) Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники пособие полностью 5 разделов
2.04.01., 2.04.02., 2.04.03., 2.04.05., Изаак Т. И., Методы исследования морфологии и структуры покрытий (2010) Томский государственный университет link магистратура, аспиранты и научные работники пособие полностью 5 разделов
1.03.06., 2.03.08., 2.03.01., 2.03.06., 2.04.05., Образовательная программа в области промышленного производства конкурентоспособной продукции из наноструктурных керамических и металлокерамических материалов Институт химии силикатов имени И.В. Гребенщикова РАН link инженеры и технологи программа 600 часов

Back to List